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F50 光学膜厚测量仪
F50薄膜厚度测量仪自动化薄膜厚度绘图系统依靠F50先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度
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膜厚测量仪FE-3
膜厚量测仪FE-3的特点使用分光干涉法原理配置高精度FFT膜厚分析引擎(专利 第4834847号)可通过光纤灵活构筑测量系统可嵌入各种制造设备可实时测量膜厚支持远程遥控,多点测量采用长使用寿命,高
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CrossLab 多厂商仪器服务
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显微分光膜厚仪
OPTM 系列显微分光膜厚仪头部集成了薄膜厚度测量所需功能通过显微光谱法测量高精度绝对反射率(多层膜厚度,光学常数)1点1秒高速测量显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外)区域传感器的安全机制易于
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CrossLab 多厂商法规认证服务
通过安捷伦 Crosslab 多厂商仪器服务,无论您使用哪个品牌的仪器,都可以使实验室中所有色谱与光谱系统得到统一优质的维修,保养,法规认证和搬迁服务。
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OPTM 半导体膜厚测试仪
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膜厚测量仪FE-300
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3,4-二羟基苯甲酸 CAS:99-50-3 乐研Leyan.com
乐研Leyan.com:致力于为医药研发提供高品质化学试剂服务。3,4-二羟基苯甲酸CAS No. :99-50-3产品编号:1047801英文名称:Protocatechuic acid库存
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薄膜,片材在线测厚仪
装置、即在铸(厚)片处和双向拉伸后的成品膜处各配置一台测厚装置,其中厚片处可以采用贝它射线传感器和“O”扫描架,薄膜处可以根据用户要求,选配贝它射线,X射线或红外线传感器和“O”型扫描架。在实际应用中
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安东帕 CAT²c/i涂层测厚仪
的长度后,涂层的厚度D可以通过简单的几何公式计算得出。 膜厚及磨损测试仪Calowear将这个原理更加深了一步。通过监测球体施加在试样上的载荷,我们可以更好的控制薄膜的磨损。研磨液以恒定速率自动滴加在
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